名稱 |
儀器名稱與型號 |
負責教授 |
位置 |
穿透式電子顯微鏡實驗室(I) |
JEOL 3010 STEM* |
王致傑 教授 |
MS 1001 |
穿透式電子顯微鏡實驗室(II) |
FEI Tecnai G2 F20 STEM* FEI Talos F200X G2 FE-TEM* |
張六文 教授 |
MS 1004 |
穿透式電子顯微鏡實驗室(III) |
JEOL 2100 TEM* |
郭紹偉 教授 |
MS 2011 |
表面分析實驗室 |
JEOL JPS 9030 XPS* JEOL JAMP-9500F AEM* |
陳致光 教授 |
MS 3025 |
掃描式電子顯微鏡實驗室(I) |
JEOL JXA-8530F FE-EPMA* JEOL 6330F FE-SEM* Zeiss Supra 55 FE-SEM |
郭哲男 教授 蔣酉旺 教授 張六文 教授 |
MS 3024 |
掃描式電子顯微鏡實驗室(II) |
Zeiss Gemini 450 STEM* |
蔣酉旺 教授 |
MS 3022 |
X光繞射實驗室 |
粉末X光繞射儀 (Bruker D2-Phaser) 高解析X光繞射儀 (Bruker D8-Discover) 極圖X光繞射儀 (Bruker D8-Discover) |
葉昀昇 教授 |
MS 3019 |
*科技部基礎核心設施